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激光測量設備

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TMC AMETEK Everstill 桌面主動隔振臺
TMC AMETEK Everstill 桌面主動隔振臺：通過運用TMC STACIS壓電消振系統，Everstill系統可以消除低至0.7Hz的振動。通過專門針對低頻的消除設計，Everstill系列在1到10H有很好表現。

型號：廠商性質：代理商
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FR-103kHz實時測量自相關儀
實時測量自相關儀FR-103kHz基于其創新性的微分延遲配置，特別適用于測量kHz頻率的放大器脈沖，能夠實現實時測量。

型號：FR-103kHz 廠商性質：代理商
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quDIS皮米精度位移激光干涉儀
昊量光電推出的皮米精度位移干涉測量儀quDIS是對納米級別的位移波動進行量測的理想儀器，基于其*的測量原理，相對距離的重復精度達到了50皮米。quDIS可同時支持三個測量通道，使其可以適用于任意的多軸測量中。quDIS在原理上同樣采用激光干涉法，不過與傳統激光干涉儀相比，其集成了法珀腔（Reference cavity）及飽和吸收氣室（GC）作為頻率校準參考，通過皮米精度位移激光干涉儀

型號：quDIS 廠商性質：代理商
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ArisTT系列桌面式主動隔震平臺/隔振臺
昊量光電新推出AFM、STM、臺式掃描電鏡、數字顯微鏡，SEM/TEM等的主動隔振解決方案，采樣*解耦的結構設計，有效隔離了來自地板的振動和由工具產生的振動，實現六自由度主動隔振，體積小質量輕負載能力強，易于集成到各類工作環境中，有效改善顯微鏡性能和圖像質量。桌面式主動隔震平臺/隔振臺

型號：ArisTT系列廠商性質：代理商
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SHR-IR近紅外激光波長計/光譜儀
SHR-IR是一款理想的用來測量脈沖激光器、連續激光器或二極管波長的波長計/光譜儀，波長范圍600-1800nm，精度±15pm。近紅外激光波長計/光譜儀

型號：SHR-IR 廠商性質：代理商
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（190nm-5000nm）高功率寬光譜光束質量分析儀 KLT-UBP
直觀易用、與波長無關的獨立光束分析解決方案，適用于高功率測量以及寬光譜測量。高功率寬光譜光束質量分析儀 KLT-UBP （190nm-5000nm）

型號：（190nm-5000nm）廠商性質：代理商
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Xper WLI白光干涉儀
Xper WLI 是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。它是以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析，并獲取反映器件表面質量的2D、3D參數，從而實現器件表面形貌3D測量的光學檢測儀器。白光干涉儀

型號：Xper WLI 廠商性質：代理商
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干涉儀.邁克爾遜干涉儀 FTIR用
在一個臂上增加一個移動反光鏡以完成干涉儀，并允許光路差在零OPD附近變化。堅固的結構和對準的特點，意味著 INT 05 系列干涉儀很適合您更高精度的近紅外分析儀的應用。邁克爾遜干涉儀 FTIR用

型號：干涉儀. 廠商性質：代理商
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ACT-25B自準直儀
ACT-25B一體化集成自準直儀是一種高精度的測量儀器，能夠將分辨率提高到弧秒級。

型號：ACT-25B 廠商性質：代理商
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APE自相關儀-PulseCheck
利用APE自相關器測量飛秒和皮秒激光系統的脈沖寬度。該技術基于二次諧波（SHG）檢測或雙光子吸收（TPA）檢測原理。激光束源的脈沖寬度也稱為脈寬，是指脈沖的瞬時功率前后兩次達到峰值功率的50%的時間間隔（即時域的半高全寬FWHM）。 APE自相關儀-PulseCheck

型號：廠商性質：代理商
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NFBP系列.近場光束分析儀 - NFBP系列
CINOGY推出的近場光束分析儀NFBP系列適用于測量聚焦的激光光束和近場成像的光纖終端或激光二極管輸出表面的激光光束。該裝置基于緊湊的CinCam CMOS相機，可以用不同的顯微鏡物鏡組裝。這些校準的顯微鏡物鏡保證了大的準確性，并能在衍射極限下成像小光束結構。近場光束分析儀 - NFBP系列

型號：NFBP系列. 廠商性質：代理商
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FSC.FSC快速伺服控制器
FSC快速伺服控制器，PID控制，用于高帶寬激光頻率鎖定，提供快速（電流）和慢速（PZT）雙通道反饋，用于激光頻率全控制。該控制回路也可優化用于諧振腔鎖定、線寬壓窄、beatnote offset locking等應用。

型號：FSC. 廠商性質：代理商
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